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对质谱上的谱峰进行解释、分析,乍一看可能会让人感到难以入手。然而,当掌握了一些质谱技术背后的理论知识后,您就可以开始在质谱中识别并获得有用的信息。尽管你希望从MS数据中获得的信息可能与别人不同,但背后涉及的基本原理是相同的。一、不同的电离源对质谱解释的影响 1.1 硬电离源的MS数据 1.2 软电离源的MS数据 二、裂解模式可提供关于样本的化学结构信息 三、加合离子可辅助识别软电离源的分子离子峰 3.1 正离子模式下常见的加合离子 3.2 阴离子模式下常见的加合离子 四、通过软件对质谱数据的加合离子峰进行识别、预测 4.1 基本的MS数据处理工具 Spectrus Processor教程(二):GC、LC/MS数据处理、分析及报告的基础操作 您必须了解的一款谱图处理软件——ACD/Spectrus Processor 4.2 碎片裂解预测及组分识别 http://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzI4NDc4ODIyNA==&mid=2247487817&idx=1&sn=9b7e1b628b2ccce564779b73c98865c9&chksm=ebf74226dc80cb3066df5ead683b1caeb6c29a9eeef1b850ba03c7257f79173144774906eafb&scene=21#wechat_redirect ">化合物质谱碎片预测软件MS Fragmenter质谱高级数据分析工具:ACD/MS Structure ID Suite 自动化未知物的质谱结构定性——ACD Automated MS Structure ID流程 参考文献:  
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